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賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備X-eye NF120 Series廣泛應(yīng)用于要求檢測Sub-micron單位不良的半導體封裝及Waffer level packaging（WLP)領(lǐng)域里。
更新日期：2024-11-06
型號：
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160F/N Series:用戶可通過需求選擇Dual CT功能(Oblique CT, Cone-beam CT)實現(xiàn)3次元（3D）影像中進行正確的分析出不良的種類，位置及大小。
更新日期：2024-11-06
型號：X-eye SF160F/N Series
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
賽可（SEC）X-RAY檢測設(shè)備SF160ER Series ：搭載Micro-focus Open Tube (160kV) 和 Flat Panel Detector ，可獲取高清晰，高倍率圖像，可靈活應(yīng)用在分析及工藝流程檢中的缺陷檢查。
更新日期：2024-11-06
型號：X-eye SF160ER Series
廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家
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